集成电路制造工艺流程
集成电路制造工艺流程
采用。
9.晶圆检查Wafer Inspection (Particles)
在晶圆制造过程中很多步骤需要进行晶圆的污染微粒检查。
如裸晶圆检查、设备监控（利用工艺设备控制沉积到晶圆上的微粒尺寸），以及在CMP、CVD及离子注入之后的检查，通常这样的检查是在晶圆应用之前，或在一个涂光刻胶的层曝光之前，称之为无图形检查。
2.沉积
化学气相沉积 Chemical Vapor Deposition
化学气相沉积 (CVD) 是在晶圆表面通过分解气体分子沉积混合物的技术。
CVD会产生很多非等离子热中间物，一个共性的方面是这些中间物或先驱物都是气体。 有很多种CVD技术，如热CVD、等离子CVD、非等离子CVD、大气CVD、LPCVD、HDPCVD、LDPCVD、PECVD等，应用于半导体制造的不同方面。
3.光刻(Photolithography)
光刻是在晶圆上印制芯片电路图形的工艺，是集成电路制造的最关键步骤，在整个芯片的制造过程中约占据了整体制造成本的35%。
光刻也是决定了集成电路按照摩尔定律发展的一个重要原因，如果没有光刻技术的进步，集成电路就不可能从微米进入深亚微米再进入纳米时代。
光刻工艺将掩膜图形转移到晶片表面的光刻胶上，首先光刻胶处理设备把光刻胶旋涂到晶圆表面，再经过分步重复曝光和显影处理之后，在晶圆上形成需要的图形。 通常以一个制程所需要经过掩膜数量来表示这个制程的难易。
根据曝光方式不同，光刻可分为接触式、接近式和投影式；
根据光刻面数的不同，有单面对准光刻和双面对准光刻；
根据光刻胶类型不同，有薄胶光刻和厚胶光刻。
一般的光刻流程包括前处理、匀胶、前烘、对准曝光、显影、后烘，
可以根据实际情况调整流程中的操作。
4.刻蚀(Etching)
在集成电路制造过程中，经过掩模套准、曝光和显影，在抗蚀剂膜上复印出所需的图形，或者用电子束直接描绘在抗蚀剂膜上产生图形，
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