岛津多道X射线荧光光谱仪测定生铁中的硅锰磷硫钛

杨宗强，梁文

（天津铁厂质量监督处，河北涉县，056404）

摘要：确定生铁取样方法，自制生铁标样，绘制工作曲线，用岛津多道X射线荧光光谱仪测定生铁中的硅磷，试验测定结果与熔样法测定结果对得很好。分析结果准确，快速，成本低。适合高炉昼夜连续生产的需要。

关键词：X射线荧光光谱法；生铁

生铁用化学方法分析，分析时间长，分析速度慢，生产费用高。使用仪器分析，分析速度快（从制样到分析结果的报出总共只需要4分钟），而且操作人员劳动强度大大降低，生产费用开支大大减少，可满足高炉昼夜连续生产的需要。

1 试验部分

1． 1测量条件

制样用的砂带粒度：40目。

岛津多道X射线荧光光谱仪，端窗式薄窗口铹靶X射线管，使用电压40Kv，电流70mA；所测元素全部使用固定道，使用样品自旋方式，真空状态下测定；使用武汉钢铁（集团）公司生产的型号为MY-093盘针式磨样机，其他测量条件见表1。

表1 测量条件

SiKα MnKα PKα SKα TiKα

PET LiF Ge NaCl LiF

25-100 45-100 50-120 25-105 65-165

Ne Exatron(Be) Ar Multitron Ne Exatron(Be) Ne Exatron(Be) Ar Exatron

40 40 40 40 40

1. 2实验方法

从高炉上采取薄片生铁试样，直接磨样，然后敲断上半部分，将试样放到试样盒里，选择生铁分析组，进行分析。

2 结果与讨论

2． 1取样方法的确定

对同一炉次的生铁运用不同的取样方法进行取样，分别取柱状试样和薄片试样（激冷方式）。对柱状样品从不同的部位进行切割，然后进行分析。对薄片试样重复进行磨样，然后进行分析，分析结果见表2，表3。

表2 同一样品不同部位各元素荧光强度 Si

底部 4.058 距底部1/3处 3.950 距底部1/2处 4.105 距底部2/3处 4.204

部位

荧光强度 (I/kcps)

Mn

3.909 3.930 3.980 3.754

P 2.450 2.561 2.890 2.630

S 3.974 3.890 3.752 4.003

Ti 2.407 2.415 2.309 2.395